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一节用

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■ 产品名称: MM3638系列

MM3638系列是采用高耐压CMOS工艺, 可对锂离子/聚合物可 充电电池起保护用的IC。可对1节锂离子/聚合物电池的过充电、 过放电、放电过电流、充电过电流及短路状态进行检测。 利用外置感应电阻取代传统的FET内阻方式, 来进行过电流检 测,即使在高温或低温环境下也能进行高精度的过电流检测。 以前的Li-ion电池封装中,作为过电流检测电阻,一直使用偏差 较大的FET SW的导通电阻。MM3638系列产品中, 使用外置 贴片电阻,提高了过电流检测的高精度化和温度依存性。

更多详情请点击:http://www.mitsumi.co.jp/chinese/catalog/pdf/c_battery_mm3638.pdf

  • (1)各种检测/解除电压的选择范围与精度 ● 过充电检测电压 4.0V ~ 4.5V、5mV进阶可选 精度±20mV 精度±25mV (Topr=-5 ~+60℃) ● 过充电解除电压 3.9V ~ 4.5V、50mV进阶可选 精度±30mV ● 过放电检测电压 2.0V ~ 3.0V、50mV进阶可选 精度±35mV ● 过放电解除电压 2.0V ~ 3.5V、50mV进阶可选 精度±100mV ● 放电过电流检测电压 +50mV ~+300mV、5mV进阶可选 精度±10mV ● 充电过电流检测电压 -50mV ~-300mV、5mV进阶可选 精度±20mV ● 短路检测电压 0.9V 固定 精度±100mV 

    (2)由各保护模式的复位条件 ● 过充电复位条件 “VDD <过充电复位电压”且“负载连接(V->0.4V)” ● 过放电复位条件 “VDD > 过放电复位电压”且“充电器连接(V-<0.2V)” ● 放电过电流复位条件 “负载开放(V-<0.2V)” ● 充电过电流复位条件 “负载连接(V->0.4V)”

     (3)各种检测延时时间的选择范围 ● 过充电检测延时时间 0.25s、1.0s、1.2s、4.5s可选 ● 过放电检测延时时间 20ms、24ms、96ms、125ms、144ms可选 ● 放电过电流检测延时时间 8ms、12ms、16ms、20ms、48ms可选 ● 充电过电流检测延时时间 8ms、12ms、16ms、20ms、48ms可选 ● 短路检测延时时间 250μs 固定 

    (4)0V电池充电功能 可选择[禁止]/[允许] 

    (5)低消耗电流 ● 正常工作模式时 Typ. 3.0μA、Max. 6.0μA ● 待机模式时 Max. 0.1μA (过放电复位条件为“充电器连接复位"的情况) Max. 0.5μA (过放电复位条件为“电压复位"的情况) (6)绝对最大额定值 ● VDD端子 VSS-0.3V ~ +12V ● COUT端子、V-端子 VDD-28V ~ VDD+0.3V ● DOUT端子 VSS-0.3V ~ VDD+0.3V ● CS端子 VSS-0.3V ~ VDD+0.3V ● 保存温度 -55 ~ +125℃ ● 工作环境温度 -40 ~ +85℃

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